Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes - Edmund G. Seebauer - Kirjat - Springer London Ltd - 9781849968201 - perjantai 22. lokakuuta 2010
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009 edition

Hinta
€ 154,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - to 7. - 15. loka
Saat ilmoituksen artistin Edmund G. Seebauer uusista julkaisuista
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

Löytyy myös muodossa:

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.


298 pages, 30 black & white tables, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä perjantai 22. lokakuuta 2010
ISBN13 9781849968201
Tuottaja Springer London Ltd
Sivujen määrä 298
Mitta 155 × 235 × 16 mm   ·   435 g
Kieli Englanti  

Lisää tuotteita Edmund G. Seebauer

Näytä kaikki

Lisää samalta julkaisijalta