Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Ireneusz Mrozek Softcover reprint of the original 1st ed. 2019 edition
Hinta
€ 54,49
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus pe - ma 2. - 12. loka
Saat ilmoituksen artistin Ireneusz Mrozek uusista julkaisuista
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai
Löytyy myös muodossa:
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Ireneusz Mrozek
This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.
135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.
| Media | Kirjat Paperback Book (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä) |
| Julkaisupäivämäärä | perjantai 1. helmikuuta 2019 |
| ISBN13 | 9783030081980 |
| Tuottaja | Springer Nature Switzerland AG |
| Sivujen määrä | 135 |
| Mitta | 150 × 220 × 10 mm · 454 g |
| Kieli | Saksa |