Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Ireneusz Mrozek 1st ed. 2019 edition
Hinta
€ 54,49
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus to 29. loka - pe 6. marras
Saat ilmoituksen artistin Ireneusz Mrozek uusista julkaisuista
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai
Löytyy myös muodossa:
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Ireneusz Mrozek
This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.
135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.
| Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
| Julkaisupäivämäärä | keskiviikko 18. heinäkuuta 2018 |
| ISBN13 | 9783319912035 |
| Tuottaja | Springer International Publishing AG |
| Sivujen määrä | 135 |
| Mitta | 150 × 220 × 20 mm · 454 g |
| Kieli | Ranska |