Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Kirjat - Springer International Publishing AG - 9783319912035 - keskiviikko 18. heinäkuuta 2018
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults 1st ed. 2019 edition

Ireneusz Mrozek

Hinta
¥ 9.402,80

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus to 27. marras - pe 5. joulu
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Löytyy myös muodossa:

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.

135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä keskiviikko 18. heinäkuuta 2018
ISBN13 9783319912035
Tuottaja Springer International Publishing AG
Sivujen määrä 135
Mitta 150 × 220 × 20 mm   ·   454 g
Kieli Ranska  

Katso kaikki joka sisältää Ireneusz Mrozek ( Esim. Paperback Book Ja Hardcover Book )