Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Kirjat - Springer Nature Switzerland AG - 9783030081980 - perjantai 1. helmikuuta 2019
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Ireneusz Mrozek
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Softcover reprint of the original 1st ed. 2019 edition

Hinta
₪ 199,10

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe - ma 5. - 15. joulu
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Löytyy myös muodossa:

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.

135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä perjantai 1. helmikuuta 2019
ISBN13 9783030081980
Tuottaja Springer Nature Switzerland AG
Sivujen määrä 135
Mitta 150 × 220 × 10 mm   ·   454 g
Kieli Saksa  

Katso kaikki joka sisältää Ireneusz Mrozek ( Esim. Paperback Book Ja Hardcover Book )