Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques - Sebastian Huhn - Kirjat - Springer Nature Switzerland AG - 9783030692117 - keskiviikko 20. huhtikuuta 2022
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques 2021 edition

Hinta
€ 114,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - to 9. - 17. syys
Saat ilmoituksen artistin Sebastian Huhn uusista julkaisuista
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

Löytyy myös muodossa:

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.


164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä keskiviikko 20. huhtikuuta 2022
ISBN13 9783030692117
Tuottaja Springer Nature Switzerland AG
Sivujen määrä 164
Mitta 150 × 220 × 10 mm   ·   296 g
Kieli Saksa  

Lisää tuotteita Sebastian Huhn

Näytä kaikki

Lisää samalta julkaisijalta