Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques Sebastian Huhn 2021 edition
Hinta
€ 114,49
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ke - to 9. - 17. syys
Saat ilmoituksen artistin Sebastian Huhn uusista julkaisuista
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai
Löytyy myös muodossa:
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques
Sebastian Huhn
This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.
164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.
| Media | Kirjat Paperback Book (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä) |
| Julkaisupäivämäärä | keskiviikko 20. huhtikuuta 2022 |
| ISBN13 | 9783030692117 |
| Tuottaja | Springer Nature Switzerland AG |
| Sivujen määrä | 164 |
| Mitta | 150 × 220 × 10 mm · 296 g |
| Kieli | Saksa |
Lisää tuotteita Sebastian Huhn
Näytä kaikkiLisää samalta julkaisijalta
Katso kaikki joka sisältää Sebastian Huhn ( Esim. Hardcover Book , Paperback Book Ja Book )