Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits - Jayanthy - Kirjat - Springer Verlag, Singapore - 9789811324925 - keskiviikko 10. lokakuuta 2018
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits 1st ed. 2019 edition

Jayanthy

Hinta
₩ 228.360

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - to 13. - 21. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits 1st ed. 2019 edition

The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk delay faults, before moving on to deterministic algorithms and simulation-based algorithms used to test crosstalk delay faults.

156 pages, 30 Tables, color; 7 Illustrations, color; 42 Illustrations, black and white; XI, 156 p. 4

Media Kirjat     Book
Julkaisupäivämäärä keskiviikko 10. lokakuuta 2018
ISBN13 9789811324925
Tuottaja Springer Verlag, Singapore
Sivujen määrä 156
Mitta 424 g

Katso kaikki joka sisältää Jayanthy ( Esim. Book )