
Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits 1st ed. 2019 edition
Jayanthy
Hinta
₩ 228.690
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus to - pe 14. - 22. elo
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits 1st ed. 2019 edition
Jayanthy
The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk delay faults, before moving on to deterministic algorithms and simulation-based algorithms used to test crosstalk delay faults.
156 pages, 30 Tables, color; 7 Illustrations, color; 42 Illustrations, black and white; XI, 156 p. 4
Media | Kirjat Book |
Julkaisupäivämäärä | keskiviikko 10. lokakuuta 2018 |
ISBN13 | 9789811324925 |
Tuottaja | Springer Verlag, Singapore |
Sivujen määrä | 156 |
Mitta | 424 g |
Katso kaikki joka sisältää Jayanthy ( Esim. Book )