Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM - R.F. Egerton - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387258003 - keskiviikko 3. elokuuta 2005
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM 1st ed. 2005. Corr. 2nd printing 2011 edition

R.F. Egerton

Hinta
Íkr 26.035,90

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - pe 13. - 22. elo
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM 1st ed. 2005. Corr. 2nd printing 2011 edition

Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.


216 pages, 122 black & white illustrations, 5 black & white tables, biography

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä keskiviikko 3. elokuuta 2005
Alunperin julkaistu 2008
ISBN13 9780387258003
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 202
Mitta 155 × 235 × 14 mm   ·   430 g
Kieli English  

Näytä kaikki

Lisää tuotteita R.F. Egerton