
Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM 1st ed. 2005. Corr. 2nd printing 2011 edition
R.F. Egerton
Hinta
Íkr 26.035,90
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ke - pe 13. - 22. elo
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller
Löytyy myös muodossa:
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM 1st ed. 2005. Corr. 2nd printing 2011 edition
R.F. Egerton
Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.
216 pages, 122 black & white illustrations, 5 black & white tables, biography
Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
Julkaisupäivämäärä | keskiviikko 3. elokuuta 2005 |
Alunperin julkaistu | 2008 |
ISBN13 | 9780387258003 |
Tuottaja | Springer-Verlag New York Inc. |
Sivujen määrä | 202 |
Mitta | 155 × 235 × 14 mm · 430 g |
Kieli | English |
Näytä kaikki
Lisää tuotteita R.F. Egerton
Katso kaikki joka sisältää R.F. Egerton ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )