Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM 2nd ed. 2016 edition
R.F. Egerton
Hinta
€ 89,49
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ma 24. marras - ti 2. joulu
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai
Löytyy myös muodossa:
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM 2nd ed. 2016 edition
R.F. Egerton
Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.
207 pages, 109 black & white illustrations, 15 colour illustrations, biography
| Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
| Julkaisupäivämäärä | torstai 7. heinäkuuta 2016 |
| ISBN13 | 9783319398761 |
| Tuottaja | Springer International Publishing AG |
| Sivujen määrä | 196 |
| Mitta | 165 × 243 × 22 mm · 471 g |
| Kieli | German |
Näytä kaikki
Lisää tuotteita R.F. Egerton
Katso kaikki joka sisältää R.F. Egerton ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )