Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM - R.F. Egerton - Kirjat - Springer International Publishing AG - 9783319398761 - torstai 7. heinäkuuta 2016
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM 2nd ed. 2016 edition

R.F. Egerton

Hinta
₪ 350,90

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe - ma 8. - 18. elo
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM 2nd ed. 2016 edition

Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.


207 pages, 109 black & white illustrations, 15 colour illustrations, biography

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä torstai 7. heinäkuuta 2016
ISBN13 9783319398761
Tuottaja Springer International Publishing AG
Sivujen määrä 196
Mitta 165 × 243 × 22 mm   ·   471 g
Kieli German  

Näytä kaikki

Lisää tuotteita R.F. Egerton