Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM Softcover reprint of the original 2nd ed. 2016 edition
R.F. Egerton
Hinta
Mex$ 1.333,20
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ti - ke 12. - 20. elo
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller
Löytyy myös muodossa:
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM Softcover reprint of the original 2nd ed. 2016 edition
R.F. Egerton
Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.
196 pages, 15 Illustrations, color; 109 Illustrations, black and white; XI, 196 p. 124 illus., 15 il
| Media | Kirjat Paperback Book (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä) |
| Julkaisupäivämäärä | keskiviikko 30. toukokuuta 2018 |
| ISBN13 | 9783319819860 |
| Tuottaja | Springer International Publishing AG |
| Sivujen määrä | 196 |
| Mitta | 234 × 156 × 16 mm · 324 g |
| Kieli | German |
Näytä kaikki
Lisää tuotteita R.F. Egerton
![Cover for R.F. Egerton · Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope (Paperback Book) [3rd ed. 2011 edition] (2014)](https://imusic.b-cdn.net/images/item/original/498/9781489986498.jpg?r-f-egerton-2014-electron-energy-loss-spectroscopy-in-the-electron-microscope-paperback-book&class=scaled&v=1539963116)
![Cover for R.F. Egerton · Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope (Hardcover Book) [3rd ed. 2011 edition] (2011)](https://imusic.b-cdn.net/images/item/original/827/9781441995827.jpg?r-f-egerton-2011-electron-energy-loss-spectroscopy-in-the-electron-microscope-hardcover-book&class=scaled&v=1544993799)
Katso kaikki joka sisältää R.F. Egerton ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )