Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM - R.F. Egerton - Kirjat - Springer International Publishing AG - 9783319819860 - keskiviikko 30. toukokuuta 2018
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM Softcover reprint of the original 2nd ed. 2016 edition

R.F. Egerton

Hinta
Mex$ 1.333,20

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ti - ke 12. - 20. elo
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM Softcover reprint of the original 2nd ed. 2016 edition

Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.


196 pages, 15 Illustrations, color; 109 Illustrations, black and white; XI, 196 p. 124 illus., 15 il

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä keskiviikko 30. toukokuuta 2018
ISBN13 9783319819860
Tuottaja Springer International Publishing AG
Sivujen määrä 196
Mitta 234 × 156 × 16 mm   ·   324 g
Kieli German  

Näytä kaikki

Lisää tuotteita R.F. Egerton