Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM 2nd ed. 2016 edition
R.F. Egerton
Hinta
SEK 999
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus pe - ma 8. - 18. elo
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller
Löytyy myös muodossa:
Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM 2nd ed. 2016 edition
R.F. Egerton
Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences.
207 pages, 109 black & white illustrations, 15 colour illustrations, biography
| Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
| Julkaisupäivämäärä | torstai 7. heinäkuuta 2016 |
| ISBN13 | 9783319398761 |
| Tuottaja | Springer International Publishing AG |
| Sivujen määrä | 196 |
| Mitta | 165 × 243 × 22 mm · 471 g |
| Kieli | German |
Näytä kaikki
Lisää tuotteita R.F. Egerton
![Cover for R.F. Egerton · Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope (Paperback Book) [3rd ed. 2011 edition] (2014)](https://imusic.b-cdn.net/images/item/original/498/9781489986498.jpg?r-f-egerton-2014-electron-energy-loss-spectroscopy-in-the-electron-microscope-paperback-book&class=scaled&v=1539963116)
![Cover for R.F. Egerton · Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope (Hardcover Book) [3rd ed. 2011 edition] (2011)](https://imusic.b-cdn.net/images/item/original/827/9781441995827.jpg?r-f-egerton-2011-electron-energy-loss-spectroscopy-in-the-electron-microscope-hardcover-book&class=scaled&v=1544993799)
Katso kaikki joka sisältää R.F. Egerton ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )